1.植物冠層分析儀的直接測量法和間接測量法優(yōu)缺點

　　直接測量法通過先測定所有葉片的葉面積，再計算LAI，因要剪下全部待測葉片，多數屬于毀壞性測量，或至少會干擾冠層，葉片角度的分布，從而影響數據的質量，直接測量費時、費力。

　　間接測量法是利用冠層結構與冠層內輻射與環(huán)境的相互作用這一定量耦合關系，通過植被冠層的輻射轉移模型來推斷LAI，可以避免直接測量法所造成的大規(guī)模破壞植被的缺點，不受時間的限制，獲取數據量大，儀器容易操作，方便快捷，還可以測定一年中森林冠層LAI的季節(jié)變化。

　　2.植物冠層分析儀測量LAI的原理及理想光照條件

　　當光線透過植物冠層時，由于受到葉片和枝干的阻攔，輻射強度會迅速消減，根據其消減程度就可推算出植物的葉量。冠層分析儀便是依據此原理，通過測量植被冠層以上（A）和植被冠層以下（B）5個角度的透射光線，利用植被樹冠的輻射轉移模型計算LAI。理想的光照條件是均勻的陰天或者散射光照下，易找到合適的測量時間往往是黎明之前和日落之后的瞬間。作為一般原則，如果可以看到地上的影子或者林冠上有陽光照射的葉子，這時的天空的光照條件就沒有滿足。

　　3.植物冠層分析儀的不同測量模式

　　單傳感器模式：適合測量可將傳感器置于冠層之上的低矮植被類型，如低矮灌木、農作物和草本植物，但也可以用于高大森林植被類型的測定；

　　雙傳感器模式：用于森林測量或作物測量，其中一個傳感器固定在冠層上部，需要增加長的擴展線；

　　遙測模式：主要用于缺少空地的森林。

　　4.測量喬木林下的灌木層的LAI

　　先測定喬木層的LAI，然后測定灌木層和喬木層的LAI，兩者之差即為灌木層的LAI。